8月27日消息,国家知识产权局信息显示,佛山市联动科技股份有限公司申请一项名为“射频开关寿命的检测方法、装置及存储介质”的专利。申请公布号为CN122632055A,申请号为CN202610657731.6,申请公布日期为2026年8月25日,申请日期为2026年5月13日,发明人陈凯、简子良、张泽荣、钱立鑫、陈宇斌、秦树前、梁浩斌、金廷泽、邹光辉、彭观发、黄嘉燕、陈碧云、朱剑桥、李俊鸿,专利代理机构北京三聚阳光知识产权代理有限公司,专利代理师阴培,分类号G01R31/327、G06F18/15。
专利摘要显示,本发明涉及寿命检测技术领域,公开了一种射频开关寿命的检测方法、装置及存储介质,所述方法包括:获取至少一个射频开关的基准参数和劣化参数;基于基准参数和劣化参数,计算得到射频开关的劣化度;基于射频开关的劣化度,计算得到射频开关的当前健康度和剩余寿命。本发明中通过持续的劣化度监测,可提前捕捉到射频开关的加速劣化趋势,以便于根据射频开关的真实性能衰减而非固定次数来计算射频开关的剩余寿命,显著降低射频开关误换和漏换的风险,提升了射频开关的利用率与测试稳定性;而且还可以降低因射频开关突发失效导致出现良率暴跌、批次报废与产线停线的风险。
联动科技是国内半导体后道封装测试专用设备领域领先企业,主营半导体自动化测试系统等核心产品,具备深厚技术积累优势。公司成立于1998年12月7日,2022年9月22日于深圳证券交易所上市,注册及办公地址均位于广东省佛山市。
公司主营业务聚焦半导体行业后道封装测试领域专用设备的研发、生产和销售,所属申万行业为电子-半导体-半导体设备,同时覆盖半导体产业、年度强势、高价股三大概念板块。
2026年上半年,联动科技实现营业收入2.23亿元,在17家同行业可比公司中排名第15,同期行业营收第一名北方华创达201.61亿元、第二名中微公司为66.91亿元,行业平均营收26.39亿元,行业中位数为9.41亿元;营收结构中,半导体自动化测试系统贡献1.97亿元,占比88.25%,半导体激光打标设备及其他一体化设备实现收入2039.13万元,占比9.12%,配件、维修及其他技术服务收入585.93万元,占比2.62%。当期公司实现净利润2192.45万元,行业排名第13(总家数17),同期行业净利润第一名北方华创达32.29亿元、第二名中微公司为27.97亿元,行业平均净利润5.47亿元,行业中位数为1.13亿元。
| 指标类别 | 具体指标 | 联动科技2026年上半年数值 | 行业对标情况 |
|---|---|---|---|
| 营收表现 | 营业收入 | 2.23亿元 | 行业排名1/17,低于行业均值26.39亿元、中位数9.41亿元,头部企业北方华创、中微公司分别达201.61亿元、66.91亿元 |
| 营收结构 | 半导体自动化测试系统收入及占比 | 1.97亿元,占比88.25% | 核心营收来源 |
| 营收结构 | 半导体激光打标设备及其他一体化设备收入及占比 | 2039.13万元,占比9.12% | 第二大收入板块 |
| 营收结构 | 配件、维修及其他技术服务收入及占比 | 585.93万元,占比2.62% | 配套服务收入 |
| 盈利表现 | 净利润 | 2192.45万元 | 行业排名13/17,低于行业均值5.47亿元、中位数1.13亿元,头部企业北方华创、中微公司分别达32.29亿元、27.97亿元 |
佛山市联动科技股份有限公司近期专利情况如下:
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 法律状态 | 申请号 | 申请日期 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日期 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 一种IPM测试系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610745148.0 | 2026-05-27 | CN122506334A | 2026-08-04 | 刘炼祥、曹兴聪、赵世强、植耀锋 |
| 2 | 同端同步收发射频开关矩阵及其控制方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610659357.3 | 2026-05-13 | CN122553890A | 2026-08-11 | 陈凯、张泽荣、简子良、钱立鑫、陈宇斌、梁浩斌、秦树前、金廷泽、彭观发、邹光辉、马家进、黄嘉燕 |
| 3 | 射频开关寿命的检测方法、装置及存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202610657731.6 | 2026-05-13 | CN122632055A | 2026-08-25 | 陈凯、简子良、张泽荣、钱立鑫、陈宇斌、秦树前、梁浩斌、金廷泽、邹光辉、彭观发、黄嘉燕、陈碧云、朱剑桥、李俊鸿 |
| 4 | 一种功率器件晶圆级动静态参数测试系统及测试方法 | 发明专利 | 授权 | CN202610434583.1 | 2026-04-03 | CN121955672B | 2026-06-12 | 岑培枝、何嘉辉、陈希辰 |
| 5 | 一种功率半导体晶圆电参数测试系统及测试方法 | 发明专利 | 授权 | CN202610426980.4 | 2026-04-02 | CN121955669B | 2026-07-10 | 岑培枝、何嘉辉、陈希辰 |
| 6 | 一种测试探针的保护装置及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610365278.1 | 2026-03-24 | CN122283207A | 2026-06-26 | 陈啟钊、陈希辰、何嘉辉、胡平、李俊鸿 |
| 7 | 功率器件测试设备 | 外观专利 | 授权 | CN202630024403.3 | 2026-01-19 | CN310060797S | 2026-06-30 | 周海峰、邱鹏军 |
| 8 | 数模混合信号集成电路测试设备 | 外观专利 | 授权 | CN202630024404.8 | 2026-01-19 | CN310068597S | 2026-07-03 | 周海峰、邱鹏军 |
| 9 | 一种表格浏览控制方法、装置、电子设备及可读存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610046537.4 | 2026-01-14 | CN122195327A | 2026-06-12 | 周海峰、张焕珽、麦颖君、薛继卓 |
| 10 | 碳化硅KGD测试座及测试方法 | 发明专利 | 授权 | CN202511520811.9 | 2025-10-23 | CN121091045B | 2026-07-17 | 何国洪 |
| 11 | 一种用于自动测试设备的FPGA升级方法、装置及设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511297054.3 | 2025-09-11 | CN121116358A | 2025-12-12 | 丁锐杰、郑俊岭、薛继卓、吴泽杭 |
| 12 | 带动态栅偏和反偏测试功能的晶圆老化测试系统及方法 | 发明专利 | 公布 | CN202511111711.0 | 2025-08-08 | CN121027783A | 2025-11-28 | 殷焕松、唐建辉、叶剑锋、何国洪、陈康健、李挺宏、苏玉芬 |
| 13 | 半导体器件激光刻蚀设备及激光刻蚀方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511032445.2 | 2025-07-25 | CN120878599A | 2025-10-31 | 罗梓林、冯志成、陈良福、陈康健 |
| 14 | 一种平面探针测试结构 | 实用新型 | 授权 | CN202521365819.8 | 2025-06-30 | CN224436406U | 2026-06-30 | 陈希辰、周婉欣、李俊鸿 |
| 15 | 一种适用于传送轨道的调平装置 | 实用新型 | 授权 | CN202521123463.7 | 2025-06-03 | CN224402069U | 2026-06-23 | 陈良福、冯志成 |
| 16 | 一种动态导通电阻的测试系统及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202510690712.9 | 2025-05-27 | CN120490613A | 2025-08-15 | 钟伟金 |
| 17 | 开仓式上下料机构及半导体运输设备 | 实用新型 | 授权 | CN202520865955.7 | 2025-04-30 | CN224306258U | 2026-05-29 | 冯志成、伍翠娴 |
| 18 | 提篮装置及自动化设备 | 实用新型 | 授权 | CN202520865984.3 | 2025-04-30 | CN224306256U | 2026-05-29 | 罗梓林 |
| 19 | 上压测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202520594057.2 | 2025-03-31 | CN224328202U | 2026-06-05 | 陈良福、罗梓林 |
| 20 | 晶圆测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202422582028.2 | 2024-10-24 | CN223413418U | 2025-10-03 | 罗梓林、陈希辰、何国洪 |
| 21 | 一种测试装置和转塔式分选机 | 发明专利 | 授权、公布 | CN202411421240.9 | 2024-10-12 | CN118969662B | 2025-02-21 | 陈啟钊、陈希辰、钟有权、李俊鸿 |
| 22 | 测试机柜及测试系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202411135640.3 | 2024-08-19 | CN119031641A | 2024-11-26 | 黄瑞柱、莫天照、周婉欣 |
| 23 | 一种老化测试系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410893279.4 | 2024-07-04 | CN118818189A | 2024-10-22 | 钟伟金、李凯、钟有权、陈希辰、何嘉辉 |
| 24 | 一种半导体测试电路 | 实用新型 | 授权 | CN202421324987.8 | 2024-06-11 | CN223166861U | 2025-07-29 | 陈凯、张泽荣、金廷泽、伍俊铨 |
| 25 | 板卡固定装置及板卡测试机箱 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410739474.1 | 2024-06-07 | CN118624954A | 2024-09-10 | 黄瑞柱、何国洪 |
| 26 | 一种功率器件的老化测试电路及老化测试方法 | 发明专利 | 授权、公布 | CN202410637137.1 | 2024-05-22 | CN118226219B | 2024-08-06 | 陈希辰、叶永全、钟有权 |
| 27 | 一种浮动夹爪机构、BP板转运装置及BP板印字检测设备 | 发明专利 | 授权、公布 | CN202410621609.4 | 2024-05-20 | CN118239259B | 2024-07-30 | 陈康健、何国洪、冯志成、李挺宏、陈良福、罗梓林 |
| 28 | 一种晶圆的动态参数测试装置及测试方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410616565.6 | 2024-05-17 | CN118566677A | 2024-08-30 | 何国洪、黄瑞柱 |
| 29 | 一种射频测试电路及射频测试机 | 实用新型 | 授权 | CN202421091190.8 | 2024-05-17 | CN222321547U | 2025-01-07 | 陈凯、伍俊铨、简子良 |
| 30 | 晶圆测试机台及晶圆动态参数的测试方法 | 发明专利 | 授权、实质审查的生效、公布 | CN202410598190.5 | 2024-05-15 | CN118191549B | 2024-08-06 | 陈希辰、钟有权 |
| 31 | 分立器件动态测试装置 | 外观专利 | 授权、公布 | CN202430266729.8 | 2024-05-08 | CN309049475S | 2025-01-03 | 邱鹏军、周海峰、冯俊修 |
| 32 | 用于电子设备的集成电路及功率器件测试设备集成开发环境图形用户界面 | 外观专利 | 授权 | CN202430266728.3 | 2024-05-08 | CN309257475S | 2025-04-25 | 周海峰、麦颖君、张焕珽、李巨鸿、赖明威、马家进 |
| 33 | 一种驱动电路、隔离开关电路及电源电路 | 实用新型 | 授权 | CN202420901551.4 | 2024-04-26 | CN222321356U | 2025-01-07 | 陈希辰 |
| 34 | 一种老化测试电路及老化测试方法 | 发明专利 | 授权、公布 | CN202410466920.6 | 2024-04-18 | CN118091355B | 2024-07-30 | 陈希辰、何嘉辉、李俊鸿、钟有权 |
| 35 | 一种碳化硅MOSFET的KGD动态参数测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202420537005.7 | 2024-03-19 | CN222704683U | 2025-04-01 | 陈啟钊、何嘉辉、黎志辉、陈炜杰、陈希辰、钟有权 |
| 36 | 一种功率器件的动态参数测试装置及分选机 | 发明专利 | 发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布 | CN202410225230.1 | 2024-02-29 | CN117805539A | 2024-04-02 | 何嘉辉、陈啟钊、陈希辰、钟有权 |
| 37 | 测量电路和MOSFET器件反向传输电容的测量方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410116792.2 | 2024-01-26 | CN118112330A | 2024-05-31 | 肖永发、陈希辰、钟伟金、吴伟琦 |
| 38 | 一种基于ATE测试的资源切换系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202410108710.X | 2024-01-25 | CN117706339A | 2024-03-15 | 招志浩 |
| 39 | 一种氟油喷涂系统 | 实用新型 | 授权 | CN202323668332.0 | 2023-12-29 | CN222019816U | 2024-11-19 | 招文浩、陈碧琴、钟有权 |
| 40 | 一种功率器件特性测试电路 | 实用新型 | 授权 | CN202323610164.X | 2023-12-27 | CN222514630U | 2025-02-21 | 何嘉辉、陈啟钊、陈希辰、钟有权 |
| 41 | 一种限流可调的测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202323609974.3 | 2023-12-27 | CN222514624U | 2025-02-21 | 何嘉辉、陈希辰、陈啟钊、李俊鸿、钟有权 |
| 42 | 一种信号源系统 | 发明专利 | 发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布 | CN202311814153.5 | 2023-12-26 | CN117761494A | 2024-03-26 | 钟伟金、刘旭伟、钟有权 |
| 43 | 一种动态测试装置及测试方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311814148.4 | 2023-12-26 | CN117890746A | 2024-04-16 | 刘炼祥、何家镖、植耀峰 |
| 44 | 一种栅极电阻无级调节的测试装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311697113.7 | 2023-12-11 | CN117665521A | 2024-03-08 | 何嘉辉、陈希辰、钟有权 |
| 45 | 一种过流保护电路及功率器件测试装置 | 实用新型 | 授权 | CN202323283694.8 | 2023-12-01 | CN222321091U | 2025-01-07 | 黎志辉 |
| 46 | 一种基于第三代半导体器件的动态参数测试系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311570930.6 | 2023-11-22 | CN117607650A | 2024-02-27 | 何嘉辉、陈希辰、钟有权 |
| 47 | 一种阻抗测试装置及方法 | 发明专利 | 授权 | CN202311518347.0 | 2023-11-14 | CN117761485B | 2025-12-26 | 钟伟金、刘旭伟、肖永发、陈希辰、钟有权 |
| 48 | 一种多通道阻抗测试电路 | 实用新型 | 授权 | CN202323037941.6 | 2023-11-09 | CN221883813U | 2024-10-22 | 钟伟金、何嘉辉、莫松安、钟有权、周婉欣 |
| 49 | 一种基于第三代半导体器件的动态测试装置及测试方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202311478944.5 | 2023-11-08 | CN117517916A | 2024-02-06 | 何嘉辉、陈希辰、钟有权、李凯 |
| 50 | 一种半导体测试头的升降支架 | 实用新型 | 授权 | CN202322942380.8 | 2023-10-31 | CN221667829U | 2024-09-06 | 黄瑞柱、周婉欣 |
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