联动科技取得数模测试设备相关专利，数模混合设备用于测试集成电路_商业

联动科技取得数模测试设备相关专利，数模混合设备用于测试集成电路

创始人

2026-07-04 09:26:08

0次

7月4日消息，国家知识产权局信息显示，佛山市联动科技股份有限公司申请一项名为“数模混合信号集成电路测试设备”的专利，授权公告号CN310068597S，授权公告日为2026年7月3日。申请号为CN202630024404.8，申请公布日期为2026年7月3日，申请日期为2026年1月19日，发明人周海峰、邱鹏军，专利代理机构上海思捷知识产权代理有限公司，专利代理师冯启正，分类号10-05(15)。

专利摘要显示，1.本外观设计产品的名称：数模混合信号集成电路测试设备。2.本外观设计产品的用途：用于测试IC（Integrated Circuit，集成电路）。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。

联动科技成立于 1998 年 12 月 7 日，于 2022 年 9 月 22 日在深圳证券交易所上市，注册地址和办公地址均为广东省佛山市。它是国内半导体后道封装测试设备领域的重要企业，专注相关设备研发，技术实力突出。

联动科技主营业务为半导体行业后道封装测试领域专用设备的研发、生产和销售，所属申万行业为电子 - 半导体 - 半导体设备，概念板块涵盖小盘股、科创企业同股同权、专精特新。

2025 年，联动科技实现营业收入 3.54 亿元，在 25 家同行业公司中排名第 23，远低于第一名北方华创的 393.53 亿元和第二名中微公司的 123.85 亿元，也低于行业平均数 41.44 亿元和中位数 14.26 亿元。其主营业务中，半导体自动化测试系统营收 3 亿元，占比 84.77%；半导体激光打标设备及其他一体化设备营收 4061.53 万元，占比 11.46%；配件、维修及其他技术服务营收 1335.76 万元，占比 3.77%。净利润方面，2025 年为 3035.63 万元，行业排名 21/25，与第一名北方华创的 54.09 亿元、第二名中微公司的 20.64 亿元差距明显，低于行业平均数 6.09 亿元和中位数 1.77 亿元。

佛山市联动科技股份有限公司近期专利情况如下：

序号	专利名称	专利类型	法律状态	申请号	申请日期	公开(公告)号	公开(公告)日期	发明人
1	一种功率器件晶圆级动静态参数测试系统及测试方法	发明专利	授权	CN202610434583.1	2026-04-03	CN121955672B	2026-06-12	岑培枝、何嘉辉、陈希辰
2	一种功率半导体晶圆电参数测试系统及测试方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202610426980.4	2026-04-02	CN121955669A	2026-05-01	岑培枝、何嘉辉、陈希辰
3	一种测试探针的保护装置及方法	发明专利	公布	CN202610365278.1	2026-03-24	CN122283207A	2026-06-26	陈啟钊、陈希辰、何嘉辉、胡平、李俊鸿
4	功率器件测试设备	外观专利	授权	CN202630024403.3	2026-01-19	CN310060797S	2026-06-30	周海峰、邱鹏军
5	数模混合信号集成电路测试设备	外观专利	授权	CN202630024404.8	2026-01-19	CN310068597S	2026-07-03	周海峰、邱鹏军
6	一种表格浏览控制方法、装置、电子设备及可读存储介质	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202610046537.4	2026-01-14	CN122195327A	2026-06-12	周海峰、张焕珽、麦颖君、薛继卓
7	碳化硅KGD测试座及测试方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202511520811.9	2025-10-23	CN121091045A	2025-12-09	何国洪
8	一种用于自动测试设备的FPGA升级方法、装置及设备	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202511297054.3	2025-09-11	CN121116358A	2025-12-12	丁锐杰、郑俊岭、薛继卓、吴泽杭
9	带动态栅偏和反偏测试功能的晶圆老化测试系统及方法	发明专利	公布	CN202511111711.0	2025-08-08	CN121027783A	2025-11-28	殷焕松、唐建辉、叶剑锋、何国洪、陈康健、李挺宏、苏玉芬
10	半导体器件激光刻蚀设备及激光刻蚀方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202511032445.2	2025-07-25	CN120878599A	2025-10-31	罗梓林、冯志成、陈良福、陈康健
11	一种平面探针测试结构	实用新型	授权	CN202521365819.8	2025-06-30	CN224436406U	2026-06-30	陈希辰、周婉欣、李俊鸿
12	一种适用于传送轨道的调平装置	实用新型	授权	CN202521123463.7	2025-06-03	CN224402069U	2026-06-23	陈良福、冯志成
13	一种动态导通电阻的测试系统及方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202510690712.9	2025-05-27	CN120490613A	2025-08-15	钟伟金
14	开仓式上下料机构及半导体运输设备	实用新型	授权	CN202520865955.7	2025-04-30	CN224306258U	2026-05-29	冯志成、伍翠娴
15	提篮装置及自动化设备	实用新型	授权	CN202520865984.3	2025-04-30	CN224306256U	2026-05-29	罗梓林
16	上压测试装置	实用新型	授权	CN202520594057.2	2025-03-31	CN224328202U	2026-06-05	陈良福、罗梓林
17	晶圆测试装置	实用新型	授权	CN202422582028.2	2024-10-24	CN223413418U	2025-10-03	罗梓林、陈希辰、何国洪
18	一种测试装置和转塔式分选机	发明专利	授权、公布	CN202411421240.9	2024-10-12	CN118969662B	2025-02-21	陈啟钊、陈希辰、钟有权、李俊鸿
19	测试机柜及测试系统	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202411135640.3	2024-08-19	CN119031641A	2024-11-26	黄瑞柱、莫天照、周婉欣
20	一种老化测试系统	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202410893279.4	2024-07-04	CN118818189A	2024-10-22	钟伟金、李凯、钟有权、陈希辰、何嘉辉
21	一种半导体测试电路	实用新型	授权	CN202421324987.8	2024-06-11	CN223166861U	2025-07-29	陈凯、张泽荣、金廷泽、伍俊铨
22	板卡固定装置及板卡测试机箱	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202410739474.1	2024-06-07	CN118624954A	2024-09-10	黄瑞柱、何国洪
23	一种功率器件的老化测试电路及老化测试方法	发明专利	授权、公布	CN202410637137.1	2024-05-22	CN118226219B	2024-08-06	陈希辰、叶永全、钟有权
24	一种浮动夹爪机构、BP板转运装置及BP板印字检测设备	发明专利	授权、公布	CN202410621609.4	2024-05-20	CN118239259B	2024-07-30	陈康健、何国洪、冯志成、李挺宏、陈良福、罗梓林
25	一种晶圆的动态参数测试装置及测试方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202410616565.6	2024-05-17	CN118566677A	2024-08-30	何国洪、黄瑞柱
26	一种射频测试电路及射频测试机	实用新型	授权	CN202421091190.8	2024-05-17	CN222321547U	2025-01-07	陈凯、伍俊铨、简子良
27	晶圆测试机台及晶圆动态参数的测试方法	发明专利	授权、实质审查的生效、公布	CN202410598190.5	2024-05-15	CN118191549B	2024-08-06	陈希辰、钟有权
28	分立器件动态测试装置	外观专利	授权、公布	CN202430266729.8	2024-05-08	CN309049475S	2025-01-03	邱鹏军、周海峰、冯俊修
29	用于电子设备的集成电路及功率器件测试设备集成开发环境图形用户界面	外观专利	授权	CN202430266728.3	2024-05-08	CN309257475S	2025-04-25	周海峰、麦颖君、张焕珽、李巨鸿、赖明威、马家进
30	一种驱动电路、隔离开关电路及电源电路	实用新型	授权	CN202420901551.4	2024-04-26	CN222321356U	2025-01-07	陈希辰
31	一种老化测试电路及老化测试方法	发明专利	授权、公布	CN202410466920.6	2024-04-18	CN118091355B	2024-07-30	陈希辰、何嘉辉、李俊鸿、钟有权
32	一种碳化硅MOSFET的KGD动态参数测试装置	实用新型	授权	CN202420537005.7	2024-03-19	CN222704683U	2025-04-01	陈啟钊、何嘉辉、黎志辉、陈炜杰、陈希辰、钟有权
33	一种功率器件的动态参数测试装置及分选机	发明专利	发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布	CN202410225230.1	2024-02-29	CN117805539A	2024-04-02	何嘉辉、陈啟钊、陈希辰、钟有权
34	测量电路和MOSFET器件反向传输电容的测量方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202410116792.2	2024-01-26	CN118112330A	2024-05-31	肖永发、陈希辰、钟伟金、吴伟琦
35	一种基于ATE测试的资源切换系统	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202410108710.X	2024-01-25	CN117706339A	2024-03-15	招志浩
36	一种氟油喷涂系统	实用新型	授权	CN202323668332.0	2023-12-29	CN222019816U	2024-11-19	招文浩、陈碧琴、钟有权
37	一种功率器件特性测试电路	实用新型	授权	CN202323610164.X	2023-12-27	CN222514630U	2025-02-21	何嘉辉、陈啟钊、陈希辰、钟有权
38	一种限流可调的测试装置	实用新型	授权	CN202323609974.3	2023-12-27	CN222514624U	2025-02-21	何嘉辉、陈希辰、陈啟钊、李俊鸿、钟有权
39	一种信号源系统	发明专利	发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布	CN202311814153.5	2023-12-26	CN117761494A	2024-03-26	钟伟金、刘旭伟、钟有权
40	一种动态测试装置及测试方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311814148.4	2023-12-26	CN117890746A	2024-04-16	刘炼祥、何家镖、植耀峰
41	一种栅极电阻无级调节的测试装置	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311697113.7	2023-12-11	CN117665521A	2024-03-08	何嘉辉、陈希辰、钟有权
42	一种过流保护电路及功率器件测试装置	实用新型	授权	CN202323283694.8	2023-12-01	CN222321091U	2025-01-07	黎志辉
43	一种基于第三代半导体器件的动态参数测试系统	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311570930.6	2023-11-22	CN117607650A	2024-02-27	何嘉辉、陈希辰、钟有权
44	一种阻抗测试装置及方法	发明专利	授权	CN202311518347.0	2023-11-14	CN117761485B	2025-12-26	钟伟金、刘旭伟、肖永发、陈希辰、钟有权
45	一种多通道阻抗测试电路	实用新型	授权	CN202323037941.6	2023-11-09	CN221883813U	2024-10-22	钟伟金、何嘉辉、莫松安、钟有权、周婉欣
46	一种基于第三代半导体器件的动态测试装置及测试方法	发明专利	实质审查的生效、公布	CN202311478944.5	2023-11-08	CN117517916A	2024-02-06	何嘉辉、陈希辰、钟有权、李凯
47	一种半导体测试头的升降支架	实用新型	授权	CN202322942380.8	2023-10-31	CN221667829U	2024-09-06	黄瑞柱、周婉欣
48	一种动态参数测试结构	实用新型	授权	CN202322439689.5	2023-09-07	CN221303484U	2024-07-09	何嘉辉、陈啟钊、黎志辉、陈希辰
49	一种柜体防尘组件及机柜	实用新型	授权	CN202322414940.2	2023-09-05	CN221103717U	2024-06-07	周海峰、邝应海、冯俊修
50	机柜操作台及测试机	实用新型	授权	CN202322373901.2	2023-08-31	CN220935416U	2024-05-10	周海峰、杨磊、冯俊修

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文由AI大模型基于公开信息生成，不代表Hehson财经观点。文中所有信息、数据及图表仅供参考，不构成任何形式的投资建议或决策依据，相关信息以实际公告为准。如有疑问，请联系：biz@staff.sina.com.cn。

联动科技取得数模测试设备相关专利，数模混合设备用于测试集成电路

相关内容

热门资讯